R&S ZNA67 矢量網(wǎng)絡分析儀 - 10 MHz–67 GHz 毫米波與射頻器件測試平臺

主要特性：

R&S ZNA67 是覆蓋 10 MHz–67 GHz 的高性能矢量網(wǎng)絡分析儀，提供 2 或 4 端口配置，典型動態(tài)范圍 >140 dB，顯示平均噪聲電平約 -150 dBm，適配毫米波器件高精度 S 參數(shù)測量。集成 4 個相參信號源、8 個獨立接收機與 4 路脈沖調(diào)制，支持脈沖射頻、矢量混頻與時域分析，兼容 1.85 mm 接口，可通過變頻器擴展至 110 GHz/1.1 THz。支持 SCPI 遠程控制與 METAS VNA Tools 不確定度驗證，適配濾波器、天線、高速連接器與毫米波模塊的研發(fā)、驗證與量產(chǎn)測試。

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產(chǎn)品中心

R&S ZNA67 矢量網(wǎng)絡分析儀 - 10 MHz–67 GHz 毫米波與射頻器件測試平臺

概述

（一）品牌相關(guān)介紹

該儀器所屬品牌長期深耕測試測量、通信技術(shù)領(lǐng)域，專注為各行業(yè)提供可靠的電子測試解決方案，其儀器產(chǎn)品以精準的性能指標、穩(wěn)定的運行表現(xiàn)與良好的場景適配性獲得行業(yè)認可，在通信、航空航天、半導體及教育科研等領(lǐng)域積累了深厚技術(shù)儲備。R&S ZNA67 聚焦射頻至毫米波的網(wǎng)絡分析，適配 5G、衛(wèi)星通信、雷達等高頻應用，可滿足射頻器件從研發(fā)到量產(chǎn)的全周期測試需求。

（二）產(chǎn)品特點

超寬頻率覆蓋與高動態(tài)范圍：頻率覆蓋 10 MHz–67 GHz，典型動態(tài)范圍 >140 dB，顯示平均噪聲電平約 -150 dBm，適合高抑制度濾波器或低插損器件的高精度測試。
多源多接收機架構(gòu)：集成最多 4 個內(nèi)部相位相參信號源與 8 個獨立接收機，支持多通道相位測量與短掃描時間，適配多端口器件（如濾波器、多工器、天線陣列）的并行測試。
脈沖與非線性測試能力：內(nèi)置最多 4 個內(nèi)部脈沖調(diào)制器和脈沖發(fā)生器，支持脈沖射頻信號分析，適用于雷達模塊或功放的脈沖特性測試；可測量放大器的 AM-AM、AM-PM 非線性特性。
多功能測量與信號完整性：支持時域分析（故障定位）、眼圖與矢量混頻器測量，提供無本振接入的混頻器 / 變頻器變頻測量，確保信號完整性與高級混頻器測試需求。
靈活擴展與系統(tǒng)集成：兼容 1.85 mm（陽性）連接器，可通過 R&S ZVA-Z/ZC 變頻器擴展至 110 GHz/1.1 THz；可選直接通道接入與步進衰減器，擴展功率范圍，適配外部測試設置與系統(tǒng)集成。
高效校準與遠程控制：內(nèi)置高級校準技術(shù)（如 TRL/LRL/LRM）降低系統(tǒng)誤差，支持夾具去嵌入功能；兼容 SCPI 指令集，支持實時測量不確定度計算（METAS VNA Tools），提升測試精度與自動化效率。

（三）產(chǎn)品規(guī)格

項目	參數(shù)值
頻率范圍	10 MHz–67 GHz（可擴展至 110 GHz/1.1 THz）
端口配置	2 端口或 4 端口
連接器類型	1.85 mm（陽性）
典型動態(tài)范圍	>140 dB
顯示平均噪聲電平	約 -150 dBm
信號源數(shù)量	最多 4 個內(nèi)部相位相參信號源
接收機數(shù)量	最多 8 個獨立接收機
脈沖調(diào)制	最多 4 個內(nèi)部脈沖調(diào)制器和脈沖發(fā)生器
擴展功能	時域分析、眼圖、矢量混頻器測量、頻譜分析模式
控制接口	LAN、USB、GPIB、觸發(fā)輸入 / 輸出、參考源輸入 / 輸出
頻率擴展	支持 R&S ZVA-Z/ZC 變頻器系列

（四）應用場景

毫米波器件研發(fā)驗證：適配 5G 毫米波、衛(wèi)星通信與雷達等高頻應用，對濾波器、多工器、天線陣列等器件進行高精度 S 參數(shù)、群時延與插損測量，支持高抑制度器件的特性分析。
射頻組件量產(chǎn)測試：依托高動態(tài)范圍與多端口并行測試能力，滿足濾波器、放大器、高速連接器等射頻組件的量產(chǎn)檢測需求，支持自動化測試流程，提升產(chǎn)線效率。
雷達與航空航天測試：支持脈沖射頻信號分析與非線性特性測量，適配雷達模塊、功放與衛(wèi)星通信器件的脈沖特性與抗干擾性能驗證。
高速數(shù)字與信號完整性：通過時域分析與夾具去嵌入功能，用于 PCB、高速信號線或連接器的故障定位（如電纜斷點檢測）與信號完整性驗證。
變頻與混頻器測試：支持矢量混頻器測量與無本振接入的變頻測量，適配混頻器、變頻器等器件的研發(fā)與性能驗證。
材料高頻特性分析：可測量材料的高頻磁導率與介電常數(shù)（1 GHz–18 GHz），適配射頻材料研發(fā)與特性評估。